Prije nego što se bacimo na APM i MALab, spomenimo još par zanimljivih činjenica o AMD-ovom postrojenju u Dresdenu koje zasigurno niste znali. Ako pogledate pobliže donju sliku, primjetit ćete dva odvojena postrojenja na njenom desnom dijelu. Riječ o dvije plinske termoelektrane čiji je zadatak neprestana opskrba energije AMD-ovih Fabova. Vlasnik elektrana je privatna tvrtka koja ih je izgradila zbog ugovora o isporuci energije s AMD-om. Postrojenje je spojena i na javnu električnu mrežu, ali veza postoji isključivo zbog redundancije. Kao i sva velika postrojenja, AMD-ovi Fabovi rade neprekidno 24 sata radi maksimalne iskoristivosti i isplate ulaganja, ali i visoko automatiziranog, složenog i dugotrajnog procesa proizvodnje procesora. Bilo kakav prekid dostave električne energije ovom postrojenju imao katastrofalne posljedice.

Pogon u Dresdenu se inače općenito može podijeliti na Fab 36 (na slici gore lijevo, zelena zgrada), R&D (Research & Development) lab (izdužena zgrada direktno ispod Faba 36) te Fab 30 (velika zgrada sa zelenim obrubom u samoj sredini fotografije).

AMD-ovo postrojenje u Dresdenu

Nama novinarima su pustili da "prismrdimo" u APM lab te u MALab odnosno Material Analysis Lab. Kao što smo napomenuli, digitalce nismo smjeli nositi sa sobom, tako da ćemo naš posjet ovim labaratorijima morati ilustrirati sa službenim AMD-ovim fotografijama odnosno fotografijama iz nezavisnih izvora. Valja napomenuti kako je sasvim razmuljivo zašto nas nisu pustili nigdje drugdje budući da za same proizvodne pogone vrijedi cleanroom standard 100 – dopuštena razina nečistoće je maksimalno 100 čestica po kubičnom metru prostora. Uz to, primjetili smo da u izvan AMD-ovog postrojenja, tik do zgrade postoji odvojeno područje za pušenje cigareta. Za pušače postoji dodatno ograničenje. Prije ulaska u "čistu" sobu mora proći minimalno 2 sata od zadnje konzumirane cigarete.

Dual Beam FIB sličan onom koji se rabi za analizu wafera i procesora u MALabu

Kao što smo napomenuli, MALab je skraćenica od Material Analysis Lab odnosno labaratorij za analizu materijala. MALab osigurava analitičke usluge za Fab 30 i Fab 36 što se u osnovi svodi na nekoliko procesa:

  • Karakterizacija procesa s tehnikama fizičke analize
  • Analiza složenih fizičkih problema na proizvodima
  • Karakterizacija materijala
  • Podrška pri kvalifikaciji novih tehnologija
  • Podrška R&D odjelu i projektima

Valja napomenuti kako prohod MALabom nije trajao dugo, otprilike 45 minuta, pa smo imali mogućnost samo usputno pogledati što se sve tamo događa. Općenito, imali smo prilike pogledati par instrumenata koji se rabe u ovom labosu za analizu materijala. Prvi od njih bio je Dual Beam FIB (Focused Ion Beam). Ovaj uređaje kombinacija standardnog FIB uređaja s TEM (Transsmision Electron Microscope) uređajem, a rezultat je koristan hibrid koji omogućava modifikaciju i analizu uzorka materijala bez da se on tijekom procesa vadi iz analitičke komore. FIB je zapravo vrlo sličan elektronskom mikroskopu, no FIB umjesto elektrona rabi ione galija.
Za razliku od elektronskog mikroskopa, FIB je sam po sebi destruktivan po uzorak koji se analizira. S druge strane, zbog izuzetno visoke preciznosti, FIB se rabi kao alat za mikro obradu materijala na mikrometarskoj i nanometarskoj skali odnosno rezoluciji. Također je moguće raditi depoziciju materijala na specifična mjesta. Sve ovo čini FIB vrlo korisnim uređajem u poluvodičkoj industriji budući da može pripremiti vrlo fine uzorke za analizu s TEM-om, ali i modificirati postojeće integrirane sklopove preciznim prekidanjem ili stvaranjem vodova između elemenata.

Prikaz SEM-a sličnog onom kojeg smo vidjeli u AMD-u

Sljedeća "stanica" bio je SEM odnosno Scanning Electron Microscope. SEM je tip elektronskog mikroskopa koji se rabi za analizu nešto većih uzoraka, a posebno je koristan pri indentificiranju lokacije fizičkih nepravilnosti na površini većeg uzorka budući da radi svojevrsne 3D fotografije. Nakon što se pomoću SEM-a otkrije mjesto nepravilnosti, daljnja analiza se vrši s preciznijim Dual Beam FIB-om.

XPS uređaj sličan onom iz Faba 30/36

Zadnji uređaj koji smo imali prilike vidjeti prije nego što smo završili prohod kroz MALab je fotoelektronski spektroskop baziran na X-zrakama (nadamo se da je prijevod dobar, u originalu je "X-ray photoelectron spectroscopy" tool) odnosno ESCA – Electron Spectroscopy for Chemical Analysis. Svrha ovog instrumenta je analiza kemijskog sastava i električnog stanja uzorka uz pomoć X zračenja. S ovim je instrumentom moguće vrlo precizno odrediti kemijski sastav uzorka te lokaciju pojedinih elemenata unutar uzorka na relativno malenoj dubini, otprilike 5 nanometara.

Žao nam je što nismo mogli vidjeti i druge instrumente koje AMD rabi u svom MALabu, ali prohod kroz lab je bio relativno kratak, bez sumnje zato što smo ga posjetili tijekom radnog dana, dok su svi radili na svojim projektima.